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X射線熒光光譜儀

簡要描述:X射線熒光光譜儀具有創(chuàng)新的光學上述配置。由于樣品室的維護,再也不用擔心被污染的光束路徑或停機時間。光學元件以上的幾何結構消除了清潔問題并延長了使用時間。

  • 產品型號:ZSX Primus III+
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2023-10-07
  • 訪  問  量:882

詳細介紹

品牌其他品牌行業(yè)專用類型電子產品
價格區(qū)間面議儀器種類手持式/便攜式
應用領域電子,電氣

ZSX Primus III +

Rigaku ZSX Primus III +以很少的標準在各種樣品類型中快速定量測定從氧氣(O)到鈾(U)的主要和次要原子元素。

高于光學元件的管道,可靠性更高

ZSX Primus III +具有創(chuàng)新的光學上述配置。由于樣品室的維護,再也不用擔心被污染的光束路徑或停機時間。光學元件以上的幾何結構消除了清潔問題并延長了使用時間。

高精度樣品定位

樣品的高精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定。這對于要求高精度的應用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用的光學配置進行高精度分析,旨在限度地減少樣品中非平坦表面引起的誤差,如熔融珠和壓制顆粒

使用EZ-scan軟件的SQX基本參數

EZ掃描允許用戶在未事先設置的情況下分析未知樣品。節(jié)省時間功能只需點擊幾下鼠標并輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件,它可以提供最準確,最快速的XRF結果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應,包括線重疊。SQX還可以校正光電子(光和超輕元素),不同氣氛,雜質和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應。使用匹配庫和的掃描分析程序可以提高準確度。


特征

  • 元素從O到U的分析

  • 管道上方的光學器件使污染問題最小化

  • 占地面積小,使用的實驗室空間有限

  • 高精度樣品定位

  • 特殊光學元件可減少曲面樣品表面造成的誤差

  • 統(tǒng)計過程控制軟件工具(SPC)

  • 吞吐量可以優(yōu)化疏散和真空泄漏率



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