能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀儀器簡(jiǎn)介：

黃金珠寶、牙科合金材料及其他稀有金屬的分析要求高精度，非破壞性而且測(cè)量點(diǎn)小。德國(guó)斯派克分析儀器公司新推出的SPECTRO MIDEX　X 射線熒光能譜儀正是滿足了這一要求，可迅速、準(zhǔn)確地提供分析數(shù)據(jù)。

　　SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測(cè)系統(tǒng)，集準(zhǔn)直、聚焦、樣品激發(fā)于一體，是功能強(qiáng)大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX　適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調(diào)節(jié)的樣品臺(tái)。通過(guò)20倍變焦攝像機(jī)可精確地確定測(cè)量位置。儀器配有計(jì)算機(jī)和專業(yè)化的軟件，使操作極為簡(jiǎn)便。測(cè)量點(diǎn)直徑為0.7mm,樣品的總測(cè)量時(shí)間不超過(guò)100秒。在測(cè)定稀有金屬合金中的金含量時(shí),樣品的測(cè)量精度為0.15%。SPECTRO MIDEX　也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內(nèi)可完成從鋁到鈾的所有數(shù)十種元素的分析。

　　SPECTRO MIDEX 不僅僅適用于珠寶行業(yè)、貴金屬檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)，海關(guān)商檢、造幣工業(yè)等，還可完成其它分析任務(wù)如：非破壞性檢查，貴金屬分選，電子線路及電氣元件的分析等。

德國(guó) Spectro MIDEX 是目前世界上性能價(jià)格比合理，使用方便，運(yùn)行成

本低，儀器穩(wěn)定性好的XRF 儀器。德國(guó)Spectro MIDEX 有很多技術(shù)優(yōu)勢(shì)，

在此無(wú)法一一列舉，以下僅列一些能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀主要特點(diǎn)：

一、電制冷的 SDD 檢測(cè)器不需液氮制冷。

二、超大樣品內(nèi)倉(cāng)（475*460*280 mm）可以放超大或者超小的樣品，對(duì)樣品的

形狀沒(méi)有任何要求。

三、采用上照式光管設(shè)計(jì)（X 光管的光束是從上往下照射樣品的），光斑電腦控制，通過(guò)攝像頭可在電腦上輕松去選定測(cè)試樣品上的某個(gè)點(diǎn)（這個(gè)優(yōu)點(diǎn)對(duì)于不規(guī)則樣品來(lái)講是有優(yōu)勢(shì)的）；同時(shí)上照式的光管可以避免在測(cè)液體樣品時(shí)發(fā)生泄漏而損壞X 光管的問(wèn)題。

四、攝像頭 20 倍變焦放大；激光束定位，彌補(bǔ)了攝像系統(tǒng)可能的位置偏差。

五、符合 ISO9001, CE… 德國(guó)X 射線安全使用標(biāo)準(zhǔn)

六、不僅可對(duì)樣品的微小區(qū)域所存在的元素進(jìn)行快速無(wú)損的分析鑒定，還可對(duì)超大樣品的表面（面積可達(dá)EC 標(biāo)準(zhǔn)線路板規(guī)格的2 倍，233*160mm），進(jìn)行元素分析。

七、SPECTRO MIDEX X 射線熒光能譜儀是為滿足多種分析任務(wù)而專門(mén)研制開(kāi)

發(fā)的微區(qū)分析儀器，靈敏度高，無(wú)破壞性，適合多種行業(yè)及研究領(lǐng)域。

八、分辨率：160ev , 計(jì)數(shù)率：250000cps（目前全球高計(jì)數(shù)率）。

九、軟件驅(qū)動(dòng)的狹縫交換器，分析面積為 0.2/0.5/1/2.5/3.3 mm. 可自由選擇，小焦點(diǎn)聚焦方式，能量無(wú)損失，定位更加準(zhǔn)，可以測(cè)試到細(xì)小的焊端，引腳和BGA 焊球。

十、儀器拓展性：用戶可自己建立曲線，建立測(cè)試方法，擴(kuò)展性較好，可以使儀器十年都保持*，軟件升級(jí)。

十一、快速測(cè)定：可設(shè)定精度，自動(dòng)控制測(cè)試時(shí)間測(cè)試，測(cè)試時(shí)間短。

十二、內(nèi)置近百種不同材質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

十三、斯派克公司開(kāi)發(fā)的 TQ-RoHS 軟件，具有強(qiáng)大的分析功能，可以校正多元素重疊，扣除Sb，Sn 及Br，As 分別對(duì)Cd，Pb 測(cè)試的影響，采用康普頓散射內(nèi)標(biāo)法校正（補(bǔ)正）不同的材質(zhì)。

十四、從Mg~U所有元素的測(cè)定只需要哦180秒

軟件的靈活性體現(xiàn)在：

1.將待測(cè)樣品的尺寸與準(zhǔn)直器及分析方法匹配。

2.對(duì)凹凸不平的樣品可分別標(biāo)示連續(xù)分析。

3.用戶可選取不同區(qū)域進(jìn)行放大，并以任意格式保存。

4.畫(huà)中畫(huà)功能，可以任意查看譜圖及來(lái)源。