三上悠亚激情AV一区二区三区,欧美一区地区,国产乱码精品一区二区三区中文 ,爱操福利视频

咨詢熱線

18822857627

當(dāng)前位置：首頁  >  產(chǎn)品展示  >  分析檢測儀器  >  材料膜厚儀

  • 錫膏測厚儀
    錫膏測厚儀

    SPI3D-AH錫膏測厚儀：錫膏印刷是SMT生產(chǎn)道工序，許多的質(zhì)量缺陷都與錫膏印刷質(zhì)量有關(guān)。監(jiān)測錫膏的厚度和 變化趨勢，不但是提高質(zhì)量降低返修成本的關(guān)鍵手段，而且是滿足ISO質(zhì)量體系對過程參數(shù)監(jiān)測記錄的要求，提高客戶對生產(chǎn)質(zhì)量信心的重要措施。

    更新時間：2024-04-09型號：SPI3D-AH訪問量：984
    查看詳情
  • 日本Otsuka顯微分光膜厚儀
    日本Otsuka顯微分光膜厚儀

    日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的安全機制 易于分析向?qū)?，初學(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析 獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義

    更新時間：2023-10-07型號：OPTM SERIES訪問量：1357
    查看詳情
  • 日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
    日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES

    日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的安全機制 易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析 獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義

    更新時間：2023-10-06型號：訪問量：986
    查看詳情
共 3 條記錄，當(dāng)前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉(zhuǎn)到第頁